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SPECTRO GENESIS 3 DSOI - Espectrômetro ICP-OES


Espectrômetro de emissão óptica de medição simultânea automática com fonte de excitação por plasma indutivamente acoplada e sistema de detector semicondutor para análise quantitativa e/ou semiquantitativa, espectroquímica e química elementar de líquidos.

Categorias:Indústria em geralAlimentos e bebidasEnergia e biocombustíveisFarma e cosméticosMineração e siderurgiaÓleo e gásPapel e celulose
A interface “Dual-Side-On Plasma” (DSOI) conta com sensibilidade adicional e alta compatibilidade matricial, promovendo uma faixa linear e maior exatidão e precisão. Esta interface única torna o SPECTRO GENESIS adequado para aplicações com requisitos analíticos de traço, mas também para concentrações mais altas e determinações de componentes importantes, bem como metais, sólidos dissolvidos elevado, orgânicos ou lamas (slurries). A purga de argônio laminar otimizada e de baixo fluxo garante um caminho de luz livre de oxigênio e minimiza a absorvência do comprimento de onda UV. Isso permite que a óptica de entrada de fácil manutenção permaneça livre de contaminação, proporcionando excelente estabilidade e extraordinária sensibilidade para linhas de emissão na região espectral entre 175 e 190 nm. O SPECTRO GENESIS DSOI consiste nos seguintes componentes: Policromador Detectores Sistema UV Gerador de RF Sistema de introdução de amostras e unidade de tocha Controle do espectrômetro Sistema de processamento de dados Software Nota: Todos os itens marcados "*" são opcionais. Configuração do sistema Policromador Estabilizado termicamente a +32 C  0,5 C Projeto de seção oca na montagem Paschen-Runge Distância focal de 400 mm Grade côncava holográfica: 2400 g/mm Componentes ópticos de quartzo Cobertura completa de comprimento de onda de 1ª ordem Faixa de comprimento de onda: 175 - 770 nm Largura das fendas de entrada: 15 μm Detetor 15 matrizes CMOS lineares pré-alinhadas, ajustadas em ordem contínua, selecionadas e otimizadas de acordo com a faixa de comprimento de onda 4096 pixels por matriz Resolução de pixels: 7 pm Estabilizado termicamente a +32 C  0,5C (sistema óptico) Arquitetura de leitura paralela Processador de sinal digital integrado para cada conjunto de detectores Sistema inteligente de aquisição e redução de dados Faixa dinâmica de até 9 ordens de magnitude Menor tempo de integração: 0,1 ms Menor tempo de medição para uma análise: 3 segundos (inclui medição e avaliação do espectro completo) Tempo de integração otimizado automaticamente para cada pixel de acordo com a altura do sinal Acesso total ao espectro Correção automática de corrente escura Interface TCP/IP para sistema de processamento de dados Sistema UV Seção oca purgada de argônio, otimizada para baixas taxas (purga necessária apenas para medições abaixo de 190nm) Taxa de fluxo de argônio: 0 a 1,0 l/min (0,5 l/min típico) Modo de economia de energia/gás com despertar automático programado Gerador de RF Projeto de estado sólido LDMOS Frequência: 27,12 MHz, tipo de funcionamento livre Potência de RF: 0,5 a 1,7 kW Estabilidade de energia: <0.1% Ignição automática por plasma Modo de espera (baixa potência, baixo argônio) Totalmente controlado por computador Refrigerado a ar (sem necessidade de resfriamento externo) Interface Lateral Dupla (DSOI) A interface DSOI exclusiva da SPECTRO usa duas interfaces ópticas para capturar a luz emitida de ambos os lados de um plasma vertical, com apenas uma única reflexão extra. Ele fornece até duas vezes a sensibilidade dos instrumentos convencionais de visão radial do plasma e iguala a sensibilidade dos sistemas de visão dupla com tocha vertical — evitando sua complexidade e desvantagens como contaminação e estresse térmico. Caminho de luz purificado do argônio Taxa de fluxo de argônio: 0.5-0.8 l/min por interface Tolerância TDS: até 30% * Sistema de introdução de amostra e unidade de tocha Tipo Baioneta, suporte de componente de montagem de volta única Conexões de gás incluídas no corpo da tocha Área de introdução de amostras isolada por termostato Fluxos/parâmetros de gás sob controle total do computador Gás de plasma: 0 – 20 l/min em incrementos de 0,1 l/min Gás auxiliar: 0 – 3 l/min em incrementos de 0,01 l/min Gás nebulizador: 0 – 1,5 l/min em incrementos de 0,01 l/min Pressão do nebulizado: 0 - 8 bar (somente exibição) Fluxo de caminho de luz: 0 – 3 l/min em incrementos de 0,1 l/min * Controle adicional para gás adicional, ou * Controle adicional para gás auxiliar com oxigênio * Sistema padrão de introdução de amostras, composto por: * Tocha de plasma fixa * Nebulizador de fluxo cruzado * Câmara de pulverização Scott miniatura (passe duplo) para lavagem rápida * Umidificador de argônio opcional para aplicações de alto TDS Nota: Sistemas de introdução de amostra adicionais podem ser selecionados de uma ampla gama de sistemas disponíveis (consulte itens disponíveis). Bomba peristáltica integrada de 70 velocidades, 3 canais, 12 rolos, controlada por computador * Bomba peristáltica integrada de 70 velocidades, de 4 canais, 12 rolos, controlada por computador Função de pré-descarga rápida e enxágue rápida Dreno peristáltico da bomba


Modalidade
Laboratório
Segmento
Alimentos e bebidasEnergia e biocombustíveisFarma e cosméticosIndústria em geralMineração e siderurgiaÓleo e gásPapel e celulose
Aplicação
condição de fluídos e óleos lubrificantesicp-oes - espectrometria meio ambiente e água minérios alimentos e industria química em geral meio ambiente e água análise de metais em geral
Fabricante
Spectro Analytical
Pensalab a serviço da qualidade

CNPJ: 01.382.559/0001-96

R.Minerva,129 - Perdizes, São Paulo - SP

CEP: 05007-030

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