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Espectrômetro de emissão óptica automático e de medição simultânea com fonte de excitação por plasma indutivamente acoplado e sistema detector de semicondutores para análise elementar espectroquímica quantitativa e/ou semiquantitativa de líquidos.
Podendo ser configurado nas opção ARCOS MultiView (MV = Axial, radial e duplo radial), SOP (apenas Radial) ou DSOI (apenas Duplo radial).
No modelo MV, por um giro sem esforço da bobina de carga, a orientação do plasma pode ser alterada, de axial para radial/duplo radial. Em menos de 90 segundos, a visão de plasma pode ser trocada de radial dedicada para axial dedicada, o que oferece desempenho analítico sem qualquer comprometimento.
A Interface Óptica de Plasma Refrigerada a Ar (OPIAir) da SPECTRO combina a sensibilidade da visualização axial com a ausência de interferências matriciais. Fornecendo uma sensibilidade média melhorada por um fator de 5 em comparação com a observação de plasma radial único, a forma do cone do OPI consegue isso perfurando a zona de recombinação, desviando-a radialmente para longe do caminho óptico, mantendo o grau de remoção independente da matriz.
A Interface de Plasma Side-On (SPI) fornece faixa linear adicional e precisão e exatidão para concentrações mais altas e determinação de componentes principais em metais, TDS alto, orgânicos ou lamas.
A interface do plasma DSOI (Dual-Side-On Plasma Interface), uma dupla visão radial, tem maior sensibilidade e alta compatibilidade matricial, faixa linear, exatidão e precisão. Esta interface única torna o SPECTRO ARCOS adequado para aplicações com requisitos analíticos de traço, mas também para concentrações mais altas e determinações de componentes importantes, bem como metais, TDS elevados, orgânicos ou lamas.
Para o ARCOS MultiView as interfaces podem ser configuradas conforme necessário, e também podem ser adquiridas em qualquer momento posterior. A purga otimizada, laminar e de baixo fluxo garante um caminho de luz livre de oxigênio e minimiza a absorvência do comprimento de onda UV. Isso permite que a óptica de entrada, de fácil manutenção, permaneça livre de contaminação, proporcionando excelente estabilidade e extraordinária sensibilidade para linhas de emissão na região espectral entre 130 (160)1 e 190 nm.
Policromador
Detectores Sistema UV
Gerador de RF (radiofrequência)
Sistema de introdução (o modelo depende da aplicação, ver em itens adicionais)
Controle do espectrômetro
Sistema de processamento de dados
Controle por software
Policromador
Estabilizado termicamente em +15°C ±0.5°C
Design da seção oca ORCA em montagem tripla Paschen-Runge
Comprimento focal de 750 mm
Grade côncava holográfica principal: 2x 3600, 1x 1800 g/mm
Material da grade em Zerodour
Componentes óticos em MgF2
Cobertura completa do comprimento de onda de 1ª ordem
Faixa de comprimento de onda: 160 – 770 nm
Largura das fendas de entrada: 15 μm
Detector
32(29)1 matrizes CMOS lineares de Hamamatsu
4096 pixels por matriz
Resolução óptica: 130(160)1–340 nm 8,5 pm; >340 nm 16–23 pm
Sistema óptico termicamente estabilizado (+15°C ± 0,5°C)
Arquitetura de leitura paralela
Processador de sinal digital integrado para cada matriz
Sistema inteligente de aquisição e redução de dados
Alcance dinâmico: até 9 ordens de grandeza
Menor tempo de integração: 0,1 ms
Menor tempo de medição para análise: 2 segundos
Acesso total ao espectro
Correção automática de corrente escura
Padronização automática de perfis
Interface TCP/IP
Sistema UV
Sistema UV-PLUS
Seção oca preenchida com gás (argônio), selado
Entrada ótica de janela dupla de fácil manutenção
Sistema automático de purificação de gás
Vida útil do cartucho de purificação: 24 meses
Design de estado sólido LDMOS
Frequência: 27,12 MHz
Potência de saída: 0,5 a 2,0 kW
Eficiência de potência: >85%
Estabilidade de potência: ≤0.1%
Ignição automática do plasma
Resfriado por ar
Combina observação radial verdadeira e axial
Mudança sem esforço da bobina de carga (<90s)
Caminho direto da luz sem deflexões adicionais
Pelo menos uma interface deve ser incluída
Sensibilidade até 5x maior vs radial
Redução de interferências de matriz
Resfriamento a ar forçado
Argônio: 0.5–0.8 L/min
Tolerância TDS: até 20%
Capta luz de ambos os lados do plasma
Sensibilidade 2x maior vs radial tradicional
Argônio: 0.5–0.8 L/min por interface
Tolerância TDS: até 30%
Tocha de plasma fixa de quartzo
Nebulizador de fluxo cruzado
Câmara Scott miniaturizada
Bomba peristáltica de 70 velocidades
Controle total via software
Fluxos programáveis de gás (plasma/auxiliar/nebulizador)
Veja também: Spectroscout
Espectrômetro: 1068 × 1582 × 756 mm
Base: 1068 × 646 mm
Peso: 240 kg
Temperatura: 15–35°C (operacional 18–25°C)
Umidade: <80% não condensável
Atmosfera livre de vapores corrosivos/poeira
Pureza ≥ 4,6 (99.996%)
Pressão: 6,5 bar
Consumo: 10–18 L/min
Tensão: 230 VAC ± 5%, 50/60 Hz
Potência: 4 kVA
Corrente: 30–32 A