espectrômetro de fluorescência de raio-x – spectro xepos

O espectrômetro SPECTRO XEPOS representa um salto quântico na tecnologia de fluorescência de raio-X por energia dispersiva. Ele lidera a nova geração de instrumentos EDXRF da SPECTRO, fornecendo avanços inovadores na análise multielementar de concentrações majoritárias, minoritárias e traços de elementos de sub-ppm a 100%.

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O espectrômetro SPECTRO XEPOS representa um salto quântico na tecnologia de fluorescência de raio-X por energia dispersiva. Ele lidera a nova geração de instrumentos EDXRF da SPECTRO, fornecendo avanços inovadores na análise multielementar de concentrações majoritárias, minoritárias e traços de elementos de sub-ppm a 100%. Novos desenvolvimentos na excitação e detecção fornecem sensibilidade e limites de detecção excepcionais – produzindo ganhos notáveis em precisão e exatidão.

O SPECTRO XEPOS se destaca em tarefas críticas de análises rápidas de avaliação a controle de qualidade precisa de produtos. Com 4 diferentes modelos (XEPOS D, C, P e HE), ele se torna aplicável para processamento on-line em uma grande variedade de aplicações, como amostras petroquímicas, químicas, ambientais, geológicas, cimento, cosméticos, alimentos, farmacêuticas e mais.

As diferentes versões maximizam o desempenho para grupos de elementos selecionados em matrizes-alvo. Um inovador de tubo de raio-X de 50 W e 60 kV e a exclusiva nova tecnologia de excitação adaptativa fornece a sensibilidade mais alta possível, otimizado para os elementos escolhidos. O software de operação redesenhado fornece facilidade e poder comprovados, enquanto o exclusivo novo software TurboQuant II analisa rápida e precisamente praticamente qualquer amostra líquida, em pó ou sólida desconhecida. E o SPECTRO XEPOS apresenta um custo de investimento e propriedade significativamente menor que espectrômetros de fluorescência de raio-X por comprimento de onda dispersiva (WD-XRF).

Características:

  • Excitação
    • O SPECTRO XEPOS utiliza um tubo com janela final de 50 Watts para excitar as amostras. A excitação adaptativa oferece diferentes condições de excitação, assegurando determinações otimizadas de elementos na faixa de Na a U. Um bloqueador de feixe integrado fornece alta estabilidade do sistema permitindo a troca de amostra sem a necessidade de desligar o tubo de raio-X.
    • As análises podem ser conduzidas em uma atmosfera inertizada com gás He ou em vácuo e muitas aplicações mesmo em ar atmosférico.
  • Detector
    • Sistema de detecção SDD (detector de deriva de silício) no estado da arte com uma ampla área. Uma resolução espectral ≤ 130 eV para Mn K-alfa é atingida. Uma taxa de contagem de entrada de até 1.000.000 cps pode ser manipulado.
  • Apresentação da amostra
    • O analisador pode analisar grandes quantidade de amostras, bem como amostras com diâmetros de 20 mm, 32 mm, 40 mm e 52 mm bandejas de amostras de alta precisão.
    • A câmara de amostra pode ser equipada com um carrossel de amostras para até mesmo amostras de 40 mm ou 52 mm para melhorar ainda mais os resultados de análises de amostras não-homogêneas ou superfícies irregulares.
  • Software
    • O software XRF Analyzer Pro oferece uma interface limpa e de fácil utilização para o instrumento. A análise pode ser iniciada após a seleção do método e introdução das informações de identificação da amostra.
  • Aplicações
    • O SPECTRO XEPOS pode ser entregue com pacotes de aplicação pré-instalados. Os pacotes de aplicação são uma combinação de hardware e métodos analíticos; instalado na fábrica e ajustados individualmente. A gama de aplicações inclui, entre outras: a análise de pastilhas prensadas, sólidos, pós, líquidos, elementos majoritários em amostras oxidadas utilizando esferas fundidas, aditivos em óleo, cimento, escória siderúrgica, refratários e outros, tornando o SPECTRO XEPOS um verdadeiro multi-talento.

Especificações Técnicas:

  • Sistema de excitação
    • Tubo de raio-X: ânodo de liga binária grossa de Pd/Co com resfriamento a ar
    • Potência máxima: 50 W
    • Tensão máxima: 50 kV (60 kV no XEPOS HE)
    • Corrente máxima: 2 mA
    • Sistema de excitação adaptável com filtros otimizados e quatro diferentes modos de excitação
    • Opcional: cristal polarizador de foco HAPG (Grafite Pirolítico Altamente Recozido) duplamente curvado para melhora na sensibilidade na faixa de (F) Na-Cl
    • Opcional: filtro de passagem de banda para desempenho melhorado para elementos na faixa de K-Mn
  • Opções de manuseio de amostras
    • Carrossel de amostras com 12 posições para amostras com diâmetros de 32 ou 40 mm ou com 25 posições para amostras com diâmetro de 20 mm
    • Rotacionador de amostras para amostras de 40 mm (padrão no XEPOS HE), operando a ~2 rpm ou para amostras de 52 mm, operando a ~1,5 rpm
    • Carrossel de amostras com 8 posições (para amostras de 40 mm) ou com 6 posições (para amostras de 52 mm) com rotacionador, aumentando a área analisada com um fator de até 20
    • Análise em uma atmosfera de He ou em vácuo
    • Câmara de amostra com reservatório de transbordamento no caso de derramamento de amostra
  • Sistema de detecção
    • SDD com resfriamento por Peltier
    • Área de detecção ampla
    • Resolução espectral (FWHM) ≤ 130 eV para Mn K-alfa
    • Taxa de entrada de contagem de até 1.000.000 de contagens por segundo
    • Trocador do filtro do detector para redução ativa de empilhamento (opcional para XEPOS P, padrão no XEPOS HE)
    • Opção de janela de baixa energia para estender a faixa de elemento até o carbono e a faixa analítica até o flúor (opcional para XEPOS P e XEPOS HE, não pode ser combinado com métodos TQ, sempre combinado com opção de vácuo e trocador do filtro do detector)
  • Eletrônica
    • Processador digital de pulso
    • MCA com 4096 canais
  • Opções de pacotes de aplicação
    • Avaliação TurboQuant II
    • Métodos de parâmetros fundamentais
    • Pacotes para várias aplicações (por exemplo, óleo, cimento, mineração)
    • Pacotes de aplicações específicas do cliente (a pedido)
  • Condições ambientais
    • Temperatura de operação: 10°C – 35°C
    • Temperatura de operação especificada: 20°C – 25°C
    • Umidade relativa: 10 – 80% não condensável
    • Atmosfera: Livre de vapores corrosivos e poeira
  • Dimensões da câmara de análise
    • 45 x 372 x 253 mm (A x L x P)
  • Purga de Hélio (opcional)
    • Pressão: 1 – 3 bar
    • Pureza: 4.6 (99,996%)
    • Consumo: 4,5 L por análise de amostra
  • Requisitos Elétricos
    • Tensão: 90 – 253 VAC, 50/60 Hz
    • Potência: 1200 W (sem computador)
    • Corrente: 16 A, com protetor de linha (fusível de queima lenta)
  • Dimensões e Peso
    • Dimensões: 465 x 618 x 730 mm (A x L x P)
    • Peso: 65 kg

Fabricante

Solução

Cloro Total, Enxofre Total, Fluorescência de Raios-X (XRF)

Modalidade

Laboratório

Segmento

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Normas

ASTM D4294, ASTM D7220, ASTM D7751, ISO 13032, ISO 20847, ISO 8754