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X-300 | X-200 | X-100 | X-50 – Analisador de Raio-X Portátil

Analisador de Raio-X portátil para análise elementar de amostras sólidas e líquidas em tempo real, em campo ou laboratório.

Descrição

A fluorescência de raio-X (XRF) é um método analítico não destrutivo utilizado para determinar concentração elementares em vários materiais.

O XRF funciona atingindo uma amostra com um feixe de raio-X produzidos por um tubo de raio-X, fazendo com que os raios-X característicos de cada elemento na amostra fluoresçam. Um detector mede a energia e intensidade (número de raios-X por segundo em uma energia específica) de cada raio-X, que é transformado em uma concentração elementar utilizando uma técnica não padronizada como parâmetro fundamental ou curvas de calibração geradas pelo usuário.

A presença de um elemento é identificada pelo comprimento de onda ou energia de emissão de raio-X característico do elemento. O teor de um elemento presente é quantificado pela medição da intensidade dessa emissão de raio-X característica do elemento.

1- O tubo de raio-X irradia uma amostra sólida ou líquida.

2- Os átomos na amostra são atingidos com raios-X de energia suficiente, por exemplo, maiores que a energia de ligação dos átomos nas camadas K ou L, causando a ejeção de um elétron da camada K ou L do átomo.

3- Um elétron em uma camada superior preenche o espaço na camada K ou L emitindo energia e “pulando” para esse nível energético mais baixo.

4- Quando o elétron cai para a camada K ou L inferior ele emite um fóton em um comprimento de onda específico para a estrutura do átomo (uma característica do raio-X).

5- O fóton emitido (raios-X) são medidos um detector de energia dispersiva no analisador XRF. O detector e a eletrônica associada mede a energia de cada raio-X e conta o número de raios-X por segundo nessa energia. Um espectro de raio-X consiste de energia ao longo do eixo horizonta e a intensidade (counts/s) ao longo do eixo vertical.

6- Processadores internos utilizam um método não padronizado como um parâmetro fundamental ou curvas de calibração geradas pelo usuário (empírica) para relacionar o espectro de raio-X à concentração elementar.

Características e Especificações

  • Visão Geral
    • X-300: Analisador XRF Premium em termos de velocidade, precisão, limite de detecção e faixa de elementos.
    • X-200: Oferece uma velocidade/precisão comparável com os melhores equipamentos de outras marcas, com um preço menor em um pacote menor e mais leve.
    • X-100: Idêntico ao X-200 para os elementos titânio e outros com número atômico maior.
    • X-50: O modelo mais econômico. Ótimo para análises básicas de metais de transição e pesados.
  • Tubo de Raio-X
    • X-300: Ânodo de 50 kV de Rh ou de Au (dependente da aplicação).
    • X-200: Ânodo de 40 kv de Rh (ligas) ou ânodo de 50 kV de Au (geoquímica, solo, outros).
    • X-100: Ânodo de 40 kv de Rh (ligas) ou ânodo de 40 kV de Au (geoquímica, solo, outros).
    • X-50: Ânodo de 40 kV de Rh ou de Au (geoquímica, solo, outros).
  • Detector, Taxa*
    • X-300: SDD Premium de 20 mm2; Fast DPP de 250k cps a >90% em tempo real.
    • X-200: SDD Padrão de 20 mm2; DPP de 125k cps, >90% em tempo real.
    • X-100: SDD Padrão de 20 mm2; DPP de 125k cps, >90% em tempo real.
    • X-50: Diodo PIN de 7 mm2; DPP Padrão de 15k cps, 50% em tempo real.

* A combinação da taxa de contagem e tempo real são parâmetros chave de desempenho na avaliação de um analizador XRF portátil. A série X está disponível com uma ampla faixa de opções de detector/preços, todos atualizáveis.

  • Ligas
    • X-300: Medição de elementos-chave leves em ligas de Mg (>0,7% em base Al), Al, Si, S e P em 2-3 segundos e 2° feixe em 2 segundos, com tempo total de teste de 5 segundos. Medição de 0,4% de Mg em ligas 6063, 356, 3004 em 5 segundos e 2° feixe em 2 segundos, com tempo total de teste de 7 segundos.
    • X-200: Melhor opção onde a classificação de alumínio é diária, mas não o maior foco. Requer um segundo feixe de teste de 8-10 segundos para Mg a 0,8% em base Al. Requer um segundo feixe de teste de 5-6 segundos para Al, Si, S e P. Requer um feixe de 15-20 para medir 0,3-0,5% de Mg em graus como ligas 6063, 356 ou 3004.
    • X-100: Análise de aço inox, metais vermelho e de alta temperatura e vermelho com velocidade, precisão comparáveis com as marcas concorrentes de topo, mas NÃO analisa os elementos Mg, Si, Al, P e S.
    • X-50: Classificação básica de aço inox, metais vermelho e de alta temperatura. Classifica somente ligas de Al pelo MLC, 2000’s e 7000’s.
  • Geoquímica, Solos
    • X-300: Melhor desempenho em terras-raras, RCRA e metais Poluente Prioritários devido ao detector premium e altas taxas.
    • X-200: Oferece precisão, limites de detecção e faixa elementar comparáveis às outras marcas de XRF líderes, mas com um pacote mais leve e um preço menor.
    • X-100: Oferece alta velocidade e precisão e excelentes limites de detecção em metais de transição (metais base) e metais pesados, tecnologia SDD. Não analisa Mg, Al e Si.
    • X-50: Mesma faixa de elementos do X-100, mas com tecnologia mais antiga, utilizando um detector Diodo PIN. O tempo de análise é muito maior para atingir a mesma precisão do X-100, mas com uma plataforma mais barata.

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